3.1.2.ST标本
图6显示了ST热处理后的SEM显微照片。熔池和树枝状结构的边界消失了。 HX ST试样在较低放大倍数下呈现等轴晶粒形态（图6a）。该标本在较高放大倍数下也显示出许多双胞胎（图6b）。对于HX-a标本，ST标本的晶粒形态与竣工标本相似（图6c）。在ST处理后，HX试样和HX-a试样之间观察到两个主要区别：在后者中，晶界因碳化物而变厚，而那些细小的碳化物在晶粒内部形成（图6d）。另一方面，在前者中，在晶粒内部未观察到碳化物，并且晶粒边界比HX-a ST试样的晶粒边界薄（图6b）。我们对晶界处的HX-a试样进行了SEM分析。结果示于图7a。 M6C，SiC和YC在晶界形成。在固溶热处理期间，晶界处的这些碳化物必须已将边界固定。我们在HX-a ST试样的晶界处进行了FE-SEM分析。图7b显示了HX-a ST样品的FE-SEM显微照片。在晶界形成了MC（Si，Y），（Mo，W）6C和Cr23C6碳化物。这些主要引起晶界钉扎效应，最终保持柱状晶粒形态。
图8显示了ST条件下HX和HX-a标本的IPF。固溶热处理后，HX试样显示等轴晶粒，方向是随机的（图8a）。大多数晶粒具有沿着的方向（图8a）。但是，HX-a标本似乎与HX-a竣工标本相似（图5b）。也就是说，它具有柱状的晶粒形态，一半的晶粒沿<100>方向保留（图8b）。
图9a显示了HX-a ST试样的EDS映射，表明晶粒内富含Mo的碳化物。晶粒内部还形成了Y和含Si的C的氧化物（见图9a）。为了找到固溶热处理后M6C碳化物沿枝晶间区域积累的原因，我们在HX-a试件的枝晶间区域进行了EDS作图（图9b）。在树突间区域，Mo，Si，C和O被隔离。材料2021、14、16的同行评审8 x图9a显示了HX-a ST试样的EDS映射，这表明晶粒内富含Mo的碳化物。晶粒内部还形成了Y和含Si的C的氧化物（见图9a）。为了找到固溶热处理后M6C碳化物沿枝晶间区域积累的原因，我们在HX-a试件的枝晶间区域进行了EDS作图（图9b）；在树突间区域，Mo，Si，C和O被隔离。
我们沿着建筑物方向（垂直样本）和垂直于建筑物方向（水平样本）进行了蠕变测试；蠕变曲线如图10所示。在建成状态下，垂直HX样品的蠕变寿命为13.8 h，而HXa样品的蠕变寿命则高1.46倍，为20.2 h（图10a）。此外，HX-a的蠕变断裂伸长率（5.7％）比HX（2.8％）高。 HX竣工水平试样的蠕变寿命（3.4 h）比HX-a水平试样（0.26 h）更长，但两个试样的断裂应变几乎相同（图10b）。图10c显示了ST垂直试样的蠕变特性。 HX样品的蠕变寿命为3.7 h，而HX-a样品的蠕变寿命则高8倍，即29.6 h。 HX-a表现出较高的蠕变断裂伸长率（15.6％），几乎是HX（7.5％）的两倍。 HX ST水平试样的蠕变寿命（3.6 h）比HX-a水平试样（0.26 h）更长，但两个试样的蠕变断裂伸长率几乎相同（图10d）。材料2021、14，x用于同行评审的9（共16）我们沿着建筑方向（垂直样本）和垂直于建筑方向（水平样本）进行了蠕变测试；蠕变曲线如图10所示。在建成状态下，垂直HX样品的蠕变寿命为13.8 h，而HX-a样品的蠕变寿命则高1.46倍，为20.2 h（图10a）。此外，HX-a的蠕变断裂伸长率（5.7％）比HX（2.8％）高。 HX建成水平试样的蠕变寿命（3.4 h）比HX-a水平试样（0.26 h）更长，但两个试样的断裂应变几乎相同（图10b）。图10c显示了ST垂直试样的蠕变特性。 HX样品比HX-a水平样品（0.26 h）表现出蠕变寿命（3.6 h），但是两个样品的蠕变断裂伸长率几乎相同（图10d）。
图11显示了蠕变断裂面。从Fi可以明显看出gure 11a，b指出，HX和HX-a建成的垂直试样显示出拉长的晶粒，这些晶粒最终显示出颈缩并引起破裂。 相比之下，可以在已建成的HX和HX-a水平样品上观察到类似乳沟状的表面（分别为图11c，d）。 显然，垂直于应力轴出现的裂纹导致沿树枝状结构出现类似乳沟的表面，表明其脆性和较低的延展性。
